Rasterelektronenmikroskopie (SEM)
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Mit der Rasterelektronenmikroskopie können Details der Probenoberfläche im Nanometerbereich sichtbar gemacht werden.
- Ultrahochauflösende Rasterelektronenmikroskopie bis zu 4 Å Punktauflösung bei 30 kV (Hitachi S-5500).
- Kombination mit Hellfeld und Dunkelfeld Rastertransmissionelektronenmikroskopie (STEM).
- Elementaranalyse mittels EDX mit wenigen nm-Auflösung.
- SEM von Bulk-Proben in Kombination mit EDX-Analyse und unter variablem Druck (Hitachi S-3500N).